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广电计量:公司可解决智能芯片的微小、多层缺陷的识别与暴露
2025-07-08 20:51:07
来源:同花顺iNews
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同花顺(300033)金融研究中心07月08日讯,有投资者向广电计量(002967)提问, 高端算力芯片(159813)(如GPU、NPU)的工业缺陷智能化检测技术是否已突破?目前能解决哪些具体问题(如微小缺陷、多层结构隐藏缺陷)?

公司回答表示,您好,目前公司通过研发投入,在人工智能(885728)芯片(159813)检测方面实现较好的技术积累,可解决智能芯片(159813)的微小、多层缺陷的识别与暴露,通过InGaAs、OBIRCH和Thermal热点设备可以精确捕捉到芯片(159813)内部微小的电应力、工艺结构等缺陷造成的漏电或短路异常,CT可以用来检测2.5D、3D高阶封装内部的微小缺陷,同时可以通过DB-FIB/P-FIB/TEM进行芯片(159813)级别的高效率微区离子束刻蚀,辅助验证高阶芯片(159813)如4nm工艺质量等问题,为高端算力芯片(159813)(如GPU、NPU)的设计与制造提供验证及分析服务。

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