钢研纳克：我司氧氮氢气体分析仪可测定碳化硅中氧的含量，ICP光谱仪、ICP质谱仪可用于碳化硅材料中杂质元素的测定，扫描电镜可应用于半导体材料组织结构的检测

来源： 同花顺iNews
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　　同花顺（300033）金融研究中心8月22日讯，有投资者向钢研纳克（300797）提问， 公司的仪器能用于碳化硅纤维和碳化硅复合材料（CMC）的检测吗？

　　公司回答表示，投资者您好，我司氧氮氢气体分析仪可测定碳化硅中氧的含量，ICP光谱仪、ICP质谱仪可用于碳化硅材料中杂质元素的测定，扫描电镜可应用于半导体材料组织结构的检测。谢谢关注！

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